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产物详情
简单介绍：
详情介绍：
■ 产物说明
稳态热反射测试法将基于雷射热反射的技术（罢顿罢搁、贵顿罢搁）与稳态热传导技术结合再一起，进行快速、小尺度的稳态量测。
宽广的热传导系数测试范围从0.05W/mＫ ~ 2500W/mＫ，SSTR-F甚至能测试小至几百微米的样品。透过光纤组件和雷射的系统提供便利的使用，可选配的FDTR测量模块量测径向、横向的热传导，以及材料边界热阻抗。搭配自动平台可以做到100mm的热传导分布图。
稳态热反射测试法将基于雷射热反射的技术（罢顿罢搁、贵顿罢搁）与稳态热传导技术结合再一起，进行快速、小尺度的稳态量测。
宽广的热传导系数测试范围从0.05W/mＫ ~ 2500W/mＫ，SSTR-F甚至能测试小至几百微米的样品。透过光纤组件和雷射的系统提供便利的使用，可选配的FDTR测量模块量测径向、横向的热传导，以及材料边界热阻抗。搭配自动平台可以做到100mm的热传导分布图。
SSTR-F是由弗吉尼亚大学ExSiTE 实验室Professor Patrick Hopkins 开发。
For paper reference: A steady-state thermoreflectance method to measure thermal conductivity - Review of Scientific Instruments 90, 024905 (2019); https://doi.org/10.1063/1.5056182
| 固体、液体 | |
| 热传导范围 | 0.05 to 2500W/mk |
|---|---|
| 热点尺寸 | >100um |
| 温度范围 | 80K to 600K |
| **度 | 5% |
| 再现性 | 2% |
| FDTR | |
| 热传导范围 | 0.05 to 2500W/mk |
| 量测方向 | 厚度方向、平面方向 |
| 薄膜厚度 | >5nm |